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HAST试验箱装置

HAST试验箱装置

产品简介
   HAST试验箱装置主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁性材料,高分子材料,EVA材料,光伏组件等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
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产品应用范围
    HAST试验箱装置广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
产品说明

HAST加速寿命试验装置设备特点

  1.HAST试验箱装置采用新优化设计,美观大方,做工精细;

  2.对应IEC60068-2-66条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器;

  3.采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口;

  4.采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态;

  5.具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确;

  6.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示;

  7.HAST老化试验箱可根据客户产品定制专用产品架;

HAST试验箱装置规范要求

  1.HAST老化试验箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果;

  2.配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架;

  3.标准配备8条试验样品信号施加端子,也可以根据需要增加端子数量,最多具备55条偏压端子;

  5.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业;

HAST加速寿命试验装置保护装置

  1.误操作安全装置:HAST箱门若未关紧则机器无法启动;

  2.超压安全保护:当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压;

  3.超温保护:当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源;

  4.防烫伤保护:特制材质制成可防止操作人员接触烫伤;

  5.手动安全保护排压伐;

HAST试验箱装置技术创新

  1.独家采用全自动补充水位之功能,试验永不中断;

  2.试验过程的温度、湿度、压力,是真正读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的,真正体现了实际的试验参数;

  3.干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性;

  4.精准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求;

  5.开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气质量;


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