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HAST非饱和加速寿命试验箱

HAST非饱和加速寿命试验箱

产品简介
   HAST非饱和加速寿命试验箱目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿 命试验时间。    用于调查查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分 析失效率上升的原因所进行的试验。 随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也 相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型: 即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。 注意事项:USPCT现在称为 HAST(高度加速应力试验)。
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HAST非饱和加速寿命试验箱
细节说明 详细规格
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产品应用范围
  HAST非饱和加速寿命试验箱广泛应用于线路板,多层线路板,,IC,LED,,磁铁之产品密封性能的检测.
产品说明
HAST非饱和加速寿命试验箱满足标准:
  1.IEC60068-2-66      2.JESD22-A102-B      3.EIAJED4701      4.EIA/JESD22      5.GB/T 2423.40-1997
HAST非饱和加速寿命试验箱规范要求:
  1.瑞凯HAST高压加速老化试验机内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
  2.配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
  3.标准配备8条试验样品信号施加端子,也可以根据需要增加端子数量,最多可提供55条偏压端子。
  4.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
HAST非饱和加速寿命试验箱设备特点:
  1.最新优化设计,美观大方,做工精细。
  2.对应IEC60068-2-66条件,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
  3.采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口.
  4.采用高效真空泵,使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。
  5.具有缓降压、排气、排水功能,控制避免试验结束后压力温度的急变,保证试验结果的正确。
  6.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
  7.HAST高压加速老化试验机可根据客户产品定制专用产品架.
HAST非饱和加速寿命试验箱售前及售后服务:
  1.售前服务:产品销售前为客户免费提供产品技术方案,并可根据客户要求提供现场讲解和技术咨询服务。
  2.售后服务:产品销售后派出人员为客户免费提供产品使用培训,现场指导产品的使用和维护。
  3.质量保证:产品保质期为验收之日起2年,在保质期内产品发生非人为质量问题,我公司为客户提供免费维修。
  4.维修服务:我公司对所用产品提供终生维修服务。如产品在保质期外出现故障,维修服务只收取元器件费用。
  5.服务迅捷:我公司承诺客户服务热线在接到客户咨询或维修等信息后4小时内做出回应,维修服务在做出回应后省内24h/省外48h赶赴现场维护。
  瑞凯仪器专业销售供应HAST非饱和加速寿命试验箱,PCT高压加速老化检测仪,HAST非饱和加速老化试验机厂家,欢迎您来电咨询HAST非饱和加速寿命试验箱的详细信息!
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