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PCT加速老化试验机产品简介

时间:2013-5-23 12:51:53  |  信息来源:东莞市瑞凯环境检测仪器有限公司  |  发布者:瑞凯团队-guo 点击量:

产品简介:

  PCT加速老化试验机(又名可程序PCT老化试验箱)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间


产品特点:

1.PCT加速老化试验机采用新优化设计,美观大方,做工精细。
2.大容量水箱,试验时间长,不中断。
3.日本“SHIMAX”智能温控器,具有精度高,控制稳定特点(依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏,USB曲线数据下载功能,和通讯功能)。


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本文关键词: PCT加速老化试验机   
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